对于新产品连续测量的数据是用Cpk还是用Ppk

我们工厂现在有一个新产品在生产, 制程还不稳定. 技术部门对其中一道工序连续测量了100个数据, 想做Cpk分析. 但我觉得用Cpk计算似乎不合适. 原因一方面制程不稳定不合乎计算Cpk的要求, 另一方面Cpk的标准差σ是考虑了组间差异的(Rbar/d2),而我们的数据采集是连续的,没有间隔性的分组抽样. 尝试用Cpk计算, 会发现数据不同的分组、摆放顺序也会对计算结果影响很大, 都不知道取哪个结果.
在这种情况下是不是要改用Ppk计算？因为其标准差s (STEDV)是评估所有数据的偏差,而不考虑分组.这样理解对吗? 认识不深, 请各位码友指导一下. 谢谢！有其它类似问题也欢迎提出来一起探讨。