破坏性MSA样品收集

我们的产品（IC 完成TCP封装后）有一项测试是引脚的压合力的测试，我们用的测量仪器是Dage 4000，我现在正在做它的MSA。这个测试是属于破坏性的，所以我在收集样品时遇到了一点问题。
我们的产品一批有2000颗左右，每个产品有很多的引脚分别压在IC的很多个pins上。
之前我的做法是这样的，我从一卷中（一批）cut 10个样品下来，然后从每个样品的很多个引脚中选择９个引脚出来，让３个操作员各测３次。后来看了别人的例子，抽１０批，每批再抽几个样品，我想是不是我的也该这样，从１０卷（１０批）中分别抽９个样品，让３个操作员分别测３次，每个样品只测一个引脚的压合力（或者应该多测几个取平均值？）。
希望有经验的朋友能指导一下我应该如何收集样品。非常感谢！