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请问直线度和平面度用什么测量

高手门:
我现在要测量一个产品的平面度和直线度,请问能放在花岗岩平板上用塞尺测量吗?
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偶爱测量 (威望:8) - 大学教授

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直线度测量有以下六种方法:
1、塞规测量
       塞规测量先利用一个长度较短的极限塞规测量合格后,再用直线度综合塞规测量,由塞规通过与否判断孔轴线直线度合格与否。
       缺点:同一尺寸有时需要几个综合塞规,以满足一个公差段内几组尺寸的要求,适用于小孔测量。另,只能判断合格与否,不能得出数据大小。
       2、气动量仪测量
      气动量仪测量是将被测尺寸的变化转化成气体流动压力的变化或流量的变化。
       缺点:动态特性差,测量范围及测量气隙小。
       3、杠杆法
       测量时,孔管在工作台上移动,测量元件感知被测截面圆心位置的变化,并通过杠杆反映给千分表进行读数。
       缺点:该方法属近似测量,每次测量的都是某一轴向截面内的直线度,因此,测量轴线直线度时要多次旋转孔管,其测量精度也不高。
       4、校正望远镜
       缺点:该方法只能测量已加工好的大孔。测量时,在孔内安放与孔大小相适应的测标,调整望远镜位置使其光轴通过首尾两孔的测标,建立测量基准线.然后移动孔内的测标到相应位置,借助望远镜瞄准测标并测出孔心的偏移量。
       5、准直光管法
       准直光管以"节距法"分段测量斜率变化,再通过数据处理求得实际表面的直线度误差,最后按规定条件评定直线度误差的数值。
       缺点:不适用于小孔径测量。
       6、三坐标测量法
       优势:使用三坐标测量产品直线度能弥补以上5种方法的不足。天准公司自主研发生产的CMU及CMG系列三坐标具有高测量精度、高测量效率、CAD图纸导入功能且操作方便,可实现在线测量等众多优点。
平面度有以下测量方法:
  1、平晶干涉法
       平晶干涉法用光学平晶的工作面体现理想平面,直接以干涉条纹的弯曲程度确定被测表面的平面度误差值。
       缺点:只能用于测量小平面,如量规的工作面和千分尺测头测量面的平面度误差。
       2、光波干涉法
       光波干涉法常利用平晶进行,可以把干涉图案作为被检验表面的等高线,因此可以画出该表面的形状。
       缺点:这种方法仅适宜测量高光洁表面,测量面积也较小。
       3、打表测量法
       打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。
       缺点:测量过程复杂,人为误差大。
       4、液平面法
       液平面法是用液平面作为测量基准面,液平面由 “连通罐”内的液面构成,然后用传感器进行测量。
       缺点:此法主要用于测量大平面的平面度误差。
       5、三坐标测量法
        优点:天准公司自主研发生产的CMU及CMG系列三坐标测量机在测量平面度时可以通过测量软件自动进行平面度误差计算与分析,完全不需人工计算,大大提高测量效率和准确率。测量前也可在测量软件中设定公差值,当测量结果不在平面度公差带时,超差数据可以用不同颜色显示(颜色可以自行设定)。另,测量软件还有SPC统计分析及CAD图纸导入等功能。
(以上内容参考天准官网)

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