ICT基本测试原理
电阻测试原理
电容/电感测试原理
二极体及IC保护二极体测试原理
齐纳二极体测试原理
电晶体(三极管)测试原理
光藕合元件测试原理
电容极性测试原理
1.1 电阻测试原理 1.1.1 固定电流源(Constant Current)模式(MODE 0)
对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测试元件,故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如附图一.
RANGE CURRENT
1欧姆 - - 299.99欧姆 5mA
300欧姆 - - 2.99K欧姆 500uA
3K欧姆 - - 29.99K欧姆 50uA
30K欧姆 - - 299.99K欧姆 5uA
300K欧姆 - - 2.99M欧姆 0.5uA
3M欧姆 - - 40M欧姆 0.1uA
1.1 电阻测试原理 1.1.2 低固定电流源(Low Constant Current)模式(MODE 1)
该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着二极体(Diode)或是IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因为二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.如附图二.
RANGE CURRENT
1欧姆 - - 299.99欧姆 500uA
300欧姆 - - 2.99K欧姆 50uA
3K欧姆 - - 29.99K欧姆 5uA
30K欧姆 - - 299.99K欧姆 0.5uA
300K欧姆 - - 2.99M欧姆 0.1uA
1.1 电阻测试原理 1.1.3 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE 3 、 MODE 4 、 MODE 5)
由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=IzZrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrlcosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.如附图三.
SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)
1KHz 600uH - - 60H 5欧姆 - - 300欧姆
10KHz 60uH - - 600mH 5欧姆 - - 40K欧姆
100KHz 6uH - - 6mH 5欧姆 - - 4K欧姆
电容/电感测试原理
二极体及IC保护二极体测试原理
齐纳二极体测试原理
电晶体(三极管)测试原理
光藕合元件测试原理
电容极性测试原理
1.1 电阻测试原理 1.1.1 固定电流源(Constant Current)模式(MODE 0)
对于不同的电阻值,ICT本身会自动限制一个适当的固定电流源做为测试的讯号源使用,如此才不会因使用都的选择不当,因而产生过高的电压而烧坏被测试元件,故其测试方式为:提供一个适当的固定电流源I,流经被测电阻R,再于被测电阻R两端,测量出Vr,由于Vr及I已知,利用Vr=IR公式,即可得知被测电阻R值,如附图一.
RANGE CURRENT
1欧姆 - - 299.99欧姆 5mA
300欧姆 - - 2.99K欧姆 500uA
3K欧姆 - - 29.99K欧姆 50uA
30K欧姆 - - 299.99K欧姆 5uA
300K欧姆 - - 2.99M欧姆 0.5uA
3M欧姆 - - 40M欧姆 0.1uA
1.1 电阻测试原理 1.1.2 低固定电流源(Low Constant Current)模式(MODE 1)
该测试方法和上述固定电流源模式一样,只是在被测电阻于电路上并联(Parallel)着二极体(Diode)或是IC保护二极体(IC Clamping Diode)时,对于该电阻两端测量电压值若超过0.5V至0.7V左右时,因为二极体导电的关系,该电阻两端电压将被维持在0.5V至0.7V左右,固无法量测出真正的Vr值,为了解决此问题,只要将原先的电流源降低一级即可.如附图二.
RANGE CURRENT
1欧姆 - - 299.99欧姆 500uA
300欧姆 - - 2.99K欧姆 50uA
3K欧姆 - - 29.99K欧姆 5uA
30K欧姆 - - 299.99K欧姆 0.5uA
300K欧姆 - - 2.99M欧姆 0.1uA
1.1 电阻测试原理 1.1.3 交流相位(AC Phase)测试模式(MODE 3 、 MODE 4 、 MODE 5)
由于电路设计关系,被测试电阻,将会并联着电感等元件,对于此电阻值测量,若使用固定电流源方式测试,电阻值将会偏低而无法测量出真正的电阻值,故使用AC电压源,利用相位角度的领先,及落后方式而得知被测电阻值.故其测试方式为:提供一个适当频率的AC电压源V,同时在被测电阻两端测量出Iz,由于V=IzZrl,因为V及Iz已知,故可得知Zrl,又因为R=Zrlcosθ,而Zrl及cosθ已知,故即可得知被测电阻R值.如附图三.
SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)
1KHz 600uH - - 60H 5欧姆 - - 300欧姆
10KHz 60uH - - 600mH 5欧姆 - - 40K欧姆
100KHz 6uH - - 6mH 5欧姆 - - 4K欧姆
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hg3210 (威望:0) (江苏 昆山)
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假如被测电阻并联一颗0.3uF以上的电容时,若使用上述固定电流源测试时,需要花费很长的时间,让电容充饱电荷,再去测量出Vr值,而得知R值,如此测试方法将增加ICT测试时间,为解决此问题,可以将固定DC电流源改为0.2V DC固定电压源,直接接于被测电阻两端,如此电容将会在短暂时间内使其Ic=0,故电路上所有电流将流经电阻R.其测量方式为:提供一个0.2V DC电压源,当Ic=0时,再测试流经电阻两端的Ir,因为V=IrR,而V及Ir已知,即可得知电阻R值.如附图四.
SIGNAL RANGE(L) RANGE(R)
1KHz 600uH - - 60H 5欧姆 - - 300欧姆
10KHz 60uH - - 600mH 5欧姆 - - 40K欧姆
100KHz 6uH - - 6mH 5欧姆 - - 4K欧姆
2 电容/电感测试原理 2.1 固定AC电压源(Constant AC Voltage)测试模式(MODE 0 、 MODE 1/MODE 2、 MODE )
对于不同阻抗的电容或电感,ICT本身会自动选择一个适当频率(frequency)的AC电压源,作为测试使用,其频率计有:1KHz , 10KHz , 100KHz , 1MHz ,对于极小阻抗值的电容或电感将需要较高频率的AC电压源,再测量被测元件两端的电压源,由于V=IcZc或V=IlZl,而V及Ic或Il已知,故得知Zc=1/2π fC或Zl=2π fL,又因f已知,故即可得知电容C或电感L值.如附图五.
DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTOR
MODE SOURCE RANGE RANGE
0 1KHz 400pF - - 30uF 6mH - - 60H
1 10KHz 40pF - - 4uF 600mH以下
2 100KHz 1pF - - 40nF 6mH以下
3 1MHz 1pF - - 300pF 1uH - - 60uH
2 电容/电感测试原理 2.2 AC相位(AC Phase)测试模式(MODE 5 、 MODE 6、MODE 7 )
对于电容或电感的测试,若并联电阻时,则利用相位角度的领先及落后方式来测量出阻抗值,故其测量方式为:提供一个适当频率的AC电压源并在被测元件两端测量出Iz,由于V=IzZrc或V=IzZrl,而V及Iz已知,故可得知Zrc或Zrl值,又因Zc=Zrcsinθ或Zl=Zrlsinθ而Zrc及sin θ或Zrl及sin θ已知,故可得知Zc或Zl,又因为Zc= 1/2π fC或Zl= 1/2πfL,而Zc及f或Zl及f已知,故即可得知电容C值或电感L值.如附图六.
DEBUG SIGNAL CAPACITOR INDUCTOR
MODE SOURCE RANGE RANGE
5 1KHz 400pF - - 30uF 6mH - - 60H
6 10KHz 40pF - - 4uF 600mH以下
7 100KHz 1pF - - 40nF 6mH以下