DFMEA中的探测度

最近做了两个项目的DFMEA，发现把探测度降低下来也是很难的事情．比如，一些手工样件，在设计评审中很难做到发现问题，只有通过相关电性能试验．如果发生失效后，更改这些失效后还是需要通过做相同的试验去验证采取的措施是否有限．事实上改变的只有频度．比如在结构上，有些配合公差也需要通过样件制造才能发现问题，探测度还是降低不下来．
我不知道各位XDJM做DFMEA时是否也碰到这样的问题