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renshanlu (威望:28) (江苏 苏州) 电子制造 主管
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renshanlu (威望:28) (江苏 苏州) 电子制造 主管
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1.技术状态受控-可以用Cpk衡量,主要考量过程中心偏离规格中心的程度,这是过程的准确性
2.统计状态受控-可以用控制图监控,主要考量过程有无异常波动存在,这是过程的精密性
两者的关系,技术状态受控是过程正常生产的前提,技术状态不受控,生产出来的产品有可能全部是不合格品,统计状态受控是技术受控的基础,统计状态不受控,将会导致技术状态不受控。
你的控制图没发现异常,但控制限超过了规格限,这一般有两种情况:
1.单侧超过(这针对平均值控制图而言),说明过程中心已严重偏离规格中心,此种情况就像打靶时,你的子弹根本没打到自己的靶子上,打在别人的靶上,而且很准,这是毫无用处的。
2.双侧都超过,说明过程的离散性太大(标准差/极差很大),因为控制限的宽度取决于过程的标准差(极差)。从标准差/极差图上应当可以看出来。