PCB电测2
C. 製程監控 在PCB的製造過程中，通常會有2~3次的100%測試, 再將不良板做重工， 因此，測試站是一個最佳的分析製程問題點的資料搜集的地方。經由統計 斷，短路及其他絕緣問題的百分比，重工後再分析發生的原因, 整理這些 數據，再利用品管手法來找出問題的根源而據以解決。通常由這些數據的 分析，可以歸納下面幾個種類，而有不同的解決方式。
1. 可歸納成某特定製程的問題，譬如連底材料都凹陷的斷路，可能是壓板 環境不潔(含鋼板上殘膠)造成；局部小面積範圍的細線或斷路比例高， 則有可能是乾膜曝光抬面吸真空局部不良的問題。諸如此類，由品管或 製程工程師做經驗上的判斷，就可解決某些製程操作上的問題。
2. 可歸成某些特別料號的問題，這些問題往往是因客戶的規格和廠內製程 能力上的某些衝突，或者是資料上的某些不合理的地方，因而會特別 突出這個料號製造上的不良。通常這些問題的呈現，須經歷一段的時 間及一些數量以上，經由測試顯現出它的問題，再針對此獨立料號加 以改進，甚至更改不同的製程。
3. 不特定屬於作業疏忽或製程能力造成的不良，這些問題就比較困難去做 歸納分析。而必須從成本和獲利間差異來考量因為有可能須添購設備 或另做工治具來改善。
D. 品質管制 測試資料的分析，可做品管系統設計的參數或改變的依據, 以不斷的提昇 品質, 提高製程能力, 降低成本.
16.3測試不良種類
A. 短路
定義：原設計上，兩條不通的導體，發生不應該的通電情形。
見圖16.2
B. 斷路
定義：原設計，同一迴路的任何二點應該通電的，卻發生了斷電的情形。
見圖16.3 (a,b)
C. 漏電(Leakage) 不同迴路的導體，在一高抗的通路測試下，發生某種程度的連通情形，屬於短路的一種。其發生原因，可能為離子污染及濕氣。
16.4電測種類與設備及其選擇
電測方式常見有三種：1.專用型(dedicated) 2.汎用型(universal) 3.飛針型 (moving probe), 下面會逐一介紹。決定何種型式，要考慮下列因素：1.待 測數量2.不同料號數量3.版別變更類頻繁度4.技術難易度 5.成本考量。 圖16.4是數量的多寡，測試種類及成本的關係 圖16.5則是製程技術須求與測試方式種類的關係。 另外有一些特殊測試方式, 也會簡述一二.
A. 專用型(dedicated)測試 專用型的測試方式之所以取為專用型，是因其所使用的治具 (Fixture) 僅適 用一種料號，不同料號的板子就不能測試，而且也不能回收使用. (測試針 除外)
a. 適用
1.測試點數，單面10,240點，雙面各8,192點以內都可以測
2測試密度，0.020" pitch以上都可測,雖然探針的製作愈來愈細, 0.020" pitch以下也可測,但一成本極高,且測試穩定度較差,這些都會影響使用何種測試方式的決定.
b. 設備 其價位是最便宜的一種，隨測試點數的多寡價格有所不同，從台幣40到200 萬不到。若再須求自動上、下板及分類良品，不良品的功能， 則價格更高。
c. 治具製作 治具製作使用的資料，是由CAD或Gerber的netlist所產生，所以選點、 編號、壓克力測試針盤用的鑽孔帶(含SMT各焊墊自動打帶)以及測試程式 等都由電腦來加以處理。
1 製作程序: 選點→壓克力(電木板)鑽孔→壓針套→繞線→插針→套FR4板。
2 針的種類及選擇 現有針號2,1,0,00,….一直到6個0都有,pitch愈小須愈多0的針. 圖16.6是各類型探針及適用方式.
d. 測試
找出標準板→記憶資料→開始測試
e. 找點、修補
找點方式有兩種
1是手製點位圖，用透明Mylar做出和板大小一樣的測試各點位置及編 號，並按順序以線連接。
2利用標點機及工作站，在螢幕上，顯示問題之線，即可立即對照板而 找正確的位置 標示出正確位置後即進行確認修補，而後再進行重測，確認的過程中， 通常會以三用電錶做工具來判斷。
f. 優,缺點 優點:
1Running cost低
2.產速快
缺點:
1治具貴
2.set up慢
3.技術受限
B. 汎用型(Universal on Grid)測試
a. Universal Grid觀念早於1970年代就被介紹,其基本理論是PCB線路Lay-out以Grid(格子)來設計, Grid之間距為0.100",見圖16.7或者以密度觀點來看,是100points/in2,爾後沿用此一觀念,線路密度,就以Grid的距離稱之. 板子電測方式就是取一G10的基材做Mask,鑽滿on grid的孔,只有在板子須測試的點才插針,其餘不插.因此其治具的製作簡易快速,其針且可重複使用
b. On-grid test 若板子之lay-out,其孔或pad皆on-grid,不管是0.100",或0.050"其測試就叫on-grid測試,問題不大.見圖16.8
c. Off-grid test 現有高密度板其間距太密,已不是on-grid設計,屬Off-grid測試,見圖16.9 其fixture就要特殊設計.
d. 先進的測試確認與修補都由技術人員在CAM Workstation上執行.由key- board或mouse來移動x,y座標,多層板各層次之線路以不同顏色重疊顯示 在螢幕上,因此找點確認非常簡易.
e. 優,缺點 優點:
1.治具成本較低
2.set-up時間短,樣品,小量產適合.
3.可測較高密度板
缺點:
1設備成本高
2.較不適合大量產
1. 可歸納成某特定製程的問題，譬如連底材料都凹陷的斷路，可能是壓板 環境不潔(含鋼板上殘膠)造成；局部小面積範圍的細線或斷路比例高， 則有可能是乾膜曝光抬面吸真空局部不良的問題。諸如此類，由品管或 製程工程師做經驗上的判斷，就可解決某些製程操作上的問題。
2. 可歸成某些特別料號的問題，這些問題往往是因客戶的規格和廠內製程 能力上的某些衝突，或者是資料上的某些不合理的地方，因而會特別 突出這個料號製造上的不良。通常這些問題的呈現，須經歷一段的時 間及一些數量以上，經由測試顯現出它的問題，再針對此獨立料號加 以改進，甚至更改不同的製程。
3. 不特定屬於作業疏忽或製程能力造成的不良，這些問題就比較困難去做 歸納分析。而必須從成本和獲利間差異來考量因為有可能須添購設備 或另做工治具來改善。
D. 品質管制 測試資料的分析，可做品管系統設計的參數或改變的依據, 以不斷的提昇 品質, 提高製程能力, 降低成本.
16.3測試不良種類
A. 短路
定義：原設計上，兩條不通的導體，發生不應該的通電情形。
見圖16.2
B. 斷路
定義：原設計，同一迴路的任何二點應該通電的，卻發生了斷電的情形。
見圖16.3 (a,b)
C. 漏電(Leakage) 不同迴路的導體，在一高抗的通路測試下，發生某種程度的連通情形，屬於短路的一種。其發生原因，可能為離子污染及濕氣。
16.4電測種類與設備及其選擇
電測方式常見有三種：1.專用型(dedicated) 2.汎用型(universal) 3.飛針型 (moving probe), 下面會逐一介紹。決定何種型式，要考慮下列因素：1.待 測數量2.不同料號數量3.版別變更類頻繁度4.技術難易度 5.成本考量。 圖16.4是數量的多寡，測試種類及成本的關係 圖16.5則是製程技術須求與測試方式種類的關係。 另外有一些特殊測試方式, 也會簡述一二.
A. 專用型(dedicated)測試 專用型的測試方式之所以取為專用型，是因其所使用的治具 (Fixture) 僅適 用一種料號，不同料號的板子就不能測試，而且也不能回收使用. (測試針 除外)
a. 適用
1.測試點數，單面10,240點，雙面各8,192點以內都可以測
2測試密度，0.020" pitch以上都可測,雖然探針的製作愈來愈細, 0.020" pitch以下也可測,但一成本極高,且測試穩定度較差,這些都會影響使用何種測試方式的決定.
b. 設備 其價位是最便宜的一種，隨測試點數的多寡價格有所不同，從台幣40到200 萬不到。若再須求自動上、下板及分類良品，不良品的功能， 則價格更高。
c. 治具製作 治具製作使用的資料，是由CAD或Gerber的netlist所產生，所以選點、 編號、壓克力測試針盤用的鑽孔帶(含SMT各焊墊自動打帶)以及測試程式 等都由電腦來加以處理。
1 製作程序: 選點→壓克力(電木板)鑽孔→壓針套→繞線→插針→套FR4板。
2 針的種類及選擇 現有針號2,1,0,00,….一直到6個0都有,pitch愈小須愈多0的針. 圖16.6是各類型探針及適用方式.
d. 測試
找出標準板→記憶資料→開始測試
e. 找點、修補
找點方式有兩種
1是手製點位圖，用透明Mylar做出和板大小一樣的測試各點位置及編 號，並按順序以線連接。
2利用標點機及工作站，在螢幕上，顯示問題之線，即可立即對照板而 找正確的位置 標示出正確位置後即進行確認修補，而後再進行重測，確認的過程中， 通常會以三用電錶做工具來判斷。
f. 優,缺點 優點:
1Running cost低
2.產速快
缺點:
1治具貴
2.set up慢
3.技術受限
B. 汎用型(Universal on Grid)測試
a. Universal Grid觀念早於1970年代就被介紹,其基本理論是PCB線路Lay-out以Grid(格子)來設計, Grid之間距為0.100",見圖16.7或者以密度觀點來看,是100points/in2,爾後沿用此一觀念,線路密度,就以Grid的距離稱之. 板子電測方式就是取一G10的基材做Mask,鑽滿on grid的孔,只有在板子須測試的點才插針,其餘不插.因此其治具的製作簡易快速,其針且可重複使用
b. On-grid test 若板子之lay-out,其孔或pad皆on-grid,不管是0.100",或0.050"其測試就叫on-grid測試,問題不大.見圖16.8
c. Off-grid test 現有高密度板其間距太密,已不是on-grid設計,屬Off-grid測試,見圖16.9 其fixture就要特殊設計.
d. 先進的測試確認與修補都由技術人員在CAM Workstation上執行.由key- board或mouse來移動x,y座標,多層板各層次之線路以不同顏色重疊顯示 在螢幕上,因此找點確認非常簡易.
e. 優,缺點 優點:
1.治具成本較低
2.set-up時間短,樣品,小量產適合.
3.可測較高密度板
缺點:
1設備成本高
2.較不適合大量產
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