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本人初学者,spc均值图和极差值控制线计算方法等问题

1.8大判异准则对于均值图和极差图都适用吗?
2.均值图的A\B\C区控制线的计算方法是怎样的?另Uclx=AveX±A2*RveR,然后又有说Uclx=Avex+3倍标准差,到底使用哪个?
3.极差图的A\B\C区控制线的计算方法是怎样的?
4.标准差=R/d2?  还是标准差=STDEV函数计算的??
 
还请高手、专家指教,本人初学者,不是太懂
 
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csuwangweijx (威望:0) (广东 深圳) 电子制造 工程师

赞同来自: Macgrady

对于第4点我的理解是:在过程是稳态的情况下,也就是没有特殊原因时,标准差用R/d2或者STDEV来计算应该是很接近的。追溯下R/d2是用来计算CPK的,但是有个前提是过程是受控的。STDEV是用来计算PPK的,如果过程稳定,CPK和PPK应该很接近。在不清楚过程是否受控时,常常要同时使用CPK和PPK来一起衡量

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