手机充电器AC PIN位置在老化后开裂(老化时壳子温度在80°左右,老化时间为4H)，谁处理过类似的案例,求助
Process mapping: AC pin与弹片铆接(7Mpa)-PCBA与壳子组装-超声波焊接(能量:80w)-老化（4H，老化温度为45摄氏度,产品表面温度为80摄氏度）-测试-外观检查（发现壳子开裂,靠近AC PIN位置,不良很有规律,只发生在一只AC PIN附近）
没有找到相关结果
已邀请:
RSS Feed
4 个回复
suexqc (威望:0) (广东 深圳) 家电或电器 主管 - 质量管理
赞同来自: