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过程是否受控的判断疑问

有论坛说:如要Cp>1.67,控制限宽度必须小于或者等于0.6倍的过程公差T(规格限USL-LSL)

问题是:
(1)连续取样30pcs后,有1pcs低于规格下限LSL,数据检验非正太;此时是否可以判定过程一定不受控?
(2)连续取样30pcs后,做capability sixpack图单值有1pcs超出控制线下限,对应移动极差也超过控制线上限;但是所有单值都在规格限以内。这种情况,也应该是不受控吧,应该以控制限来判定是否受控?
(3)受控与否与时间相关,问题是,来料连续随机取样,产品对应的生产实践无法知晓(虽然都是一个批次的);此时capability sixpack控制限能否应用呢? 我们以客户的角度看待供应商提供的来料。
以上问题,幼稚了,多情指点!
(4)对于不受控的点,计算cpk:一是去掉该不受控点,就正太了,计算cpk;一种是通过Box-Cox转换成正太得到的cpk,哪种方法是对的呢?
多谢!
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发起人

海阔天空
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材料科学、英语

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