关于CPK、PPK、控制图的控制限与计算

研究了几天控制图和CPK、PPK，翻看了不少网友的帖子，我的理解能力有限，对各种专业术语和英文简写有点头晕，说法很多，以下是我理解的信息

1.PPK的上下限是通过所有数据直接计算均值和标准差得来的，为Xbar正负3σ

2.控制图的上下限和标准差的计算，是要根据子组容量大小查系数表的，上下限为Xbar正负E2R，标准差为Rbar/D2

3.如果过程受控，进行CPK计算，在没有客供规格的时候，PPK的控制限可以做为CPK计算的控制限，控制图的标准差可以用来计算CPK。（我在网上下载了一个所谓的CPK计算表格，里面的标准差计算公式竟然直接是STDEV，而不是Rbar/D2，我表示新手很无奈啊）

4.PPK不论过程是否受控都可以计算，CPK是过程处于受控状态下才可计算，这点大家都认可。

5.一点疑问，CPK计算的原始规格是哪里来的，是不是客户或者供应商用PPK和控制图之类的计算出来的。

以上请指正。