BB试题
假定某晶片生产过程检测发现晶片的DPU=1,缺陷的出现是完全随机的且服从泊松分布，则随机抽取一片晶片，该晶片没有缺陷的概率近似为：
A. 50%
B. 0%
C. 37%
D. 10%
标准答案是C，大侠能帮忙解读一下吗？
A. 50%
B. 0%
C. 37%
D. 10%
标准答案是C，大侠能帮忙解读一下吗？
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wangguanhua (威望:0) (天津 ) 电气或能源 工程师
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