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请教:控制图上下限问题

请教:过程要求2245+/-2.5,采集了54个数据,子集大小2个,编制Xbar-R图,但是问题来了:
minitab描绘出的控制图中的上下限要比2245+/-2.5窄一些,于是实际测得的点在minitab的控制图中超差,但按照过程公差是符合要求的,我想调整minitab的上下控制限,但无法实现,最多也就只能在过程公差的位置画一条参考线,但图中超差的数据仍是红色的,并且minitab默认的3sigma的公差宽度线无法删除。
这个时候我应该怎样做才能体现出过程的受控状态(即过程数据无超差点)?
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shiny_zou (威望:0)

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XBar-R图上有上下控制线和上下规格线,楼主说的情况应该是上下控制线吧,超出控制线的点不一定会超出规格线。只是说明组别里的数据极差比较大。应该找到原因去控制。

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