如何用加速测试的失效来预估产品未来的失效

目前我们公司对于新产品都会进行ELT(early life test)环境温度:40度,湿度:80%,测试数量一般5-10台,由于电子产品寿命一般都很长往往只能收集到一两台的失效时间,这么有限的数据该如何去预估产品未来的失效呢?有没有哪位高手有高招啊能不能指点指点啊!

例子:10台19寸TV加温了1872小时有一台死机,2016HRS又死机了一台,这么有限的数据该如何分析, minitab有什么选项可用来分析吗?