失效率控制线的计算

最近碰到失效率控制线计算的问题。
公司的产品(芯片)是以圆片为单位出成品率报告的。
很多资料都给出了失效率sigma的计算，采用二项式

sigma=sqrt( (1-Pbar)*Pbar/N)),
N是检验数，由于圆片上芯片的数目很多，而且全部测量，
这样就会产生一个问题，如果是1000个芯片，失效率1%, 会得到一个控制线，
如果是10000个芯片，也是1%失效率，那sigma 不是要小sqrt(10)???
这个比较困惑。
是不是这样简单的取N是错误的，根据抽样水平来统计应该更合理，但是由于是全检，
抽样也不合适。