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关于DPMO的计算(实例讨论)

现在是如下的情况:
一个功能模块的完成需要经过SMT+组装+测试
我们分别计算SMT和组装+测试的DPMO.
SMT DPMO=(defects before reflow+defects after reflow+QA audit finding)/opportunity *1000000

组装+测试 DPMO=(defects at assembly +defects at test+QA audit finding)/opportunity *1000000

我的问题是:
如上的组装+测试 DPMO的分母只是组装所需要的配件的所有数量,并没有包括电路板上component的opportunity,但如果在测试时发现末一个component虚焊,却记在组装+测试的DPMO上。
请问各位有什么看法? 是应该把component的问题记在SMT上 还是 仍然记在组装+测试的DPMO上,但opportunity 还应该包涵电路板上component的opportunity?
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owenyu (威望:0) (江苏 南京) - 中國江蘇

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应该包涵电路板上component的opportunity,后經分析再找根本原因

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