关于消费类电子元器件工作温度的测试方法和判定标准
请教:
消费类电子产品(如DVB-T/S)等机测试工作温试的方法
1,一般测试哪些点?
2,判定的标准是什么?有哪些依据?
3,我一般是测试上,下盖,主解码IC,电源+5V整流二极管.测试上下盖温度时装探头粘在外部.判定标准是上盖不能超50度,下盖不能超60度,内部关建军元件温度以元件规格书和相近元件承受温度为准.不知有没有什么不妥的.请大家指教.
谢谢!
消费类电子产品(如DVB-T/S)等机测试工作温试的方法
1,一般测试哪些点?
2,判定的标准是什么?有哪些依据?
3,我一般是测试上,下盖,主解码IC,电源+5V整流二极管.测试上下盖温度时装探头粘在外部.判定标准是上盖不能超50度,下盖不能超60度,内部关建军元件温度以元件规格书和相近元件承受温度为准.不知有没有什么不妥的.请大家指教.
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pdw88 (威望:0) -
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测试点：主要发热元器件及附近元器件
测试时间：运行４Ｈ之后才能进行测试
测试信号：１Ｋ０ＤＢ（ＰＩＮＫ ＮＯＩＳＥ ＤＩＳＣ）
环境温度：４０度
判定ＳＰＥＣ：
外表面不超过温升２５度
主ＩＣ不超过８５度
稳压ＩＣ不超过去时２５度
其它参照元件ＳＰＥＣ