ERA是什么意思?

Cpk應用1. Cpk的中文定義為：制程能力指數，是某個工程或制程水准的量化反應，也是工程評估的一類指標。

1. 同Cpk息息相關的兩個參數：Ca , Cp.

Ca: 制程准確度。 Cp: 制程精密度。

1. Cpk, Ca, Cp三者的關系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp兩者的中和反應，Ca反應的是位置關系(集中趨勢)，Cp反應的是散布關系(離散趨勢)
2. 當選擇制程站別用Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對后制程的影響度。
3. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有一定代表性。
4. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
5. 首先可用Excel的“STDEV”函數自動計算所取樣數據的標准差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差＝規格上限－規格下限﹔規格中心值＝（規格上限+規格下限）/2﹔
6. 依據公式：Ca=(X'-U)/(T/2) ， 計算出制程准確度：Ca值
7. 依據公式：Cp =T/6Sigma ， 計算出制程精密度：Cp值

10.依據公式：Cpk=Cp*(1-絕對值Ca) ， 計算出制程能力指數：Cpk值
11.Cpk的評級標准：（可據此標准對計算出之制程能力指數做相應對策）
A++級 Cpk≧2.0 特優 可考慮成本的降低
A+ 級 2.0 ＞ Cpk ≧ 1.67 優 應當保持之
A 級 1.67 ＞ Cpk ≧ 1.33 良 能力良好，狀態穩定，但應盡力提升為A＋級
B 級 1.33 ＞ Cpk ≧ 1.0 一般 狀態一般，制程因素稍有變異即有產生不良
的危險，應利用各種資源及方法將其提升為
A級
C 級 1.0 ＞ Cpk ≧ 0.67 差 制程不良較多，必須提升其能力
D 級 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，應考慮重新整改設計制程。

現在很多的客戶要求瞭解你生産設備的能力，都要求看你的Cpk值。什麽是Cpk值？我這裏傳載一些介紹給大家，要詳細的瞭解，還是要看SPC。

SPC相關術語解釋

您知道嗎？---Cpk or Ppk

客戶向你索要你所提供産品或過程的能力報告。您知道要計算Cpk必須要有産品規格、平均值和Sigma，當您收集資訊時，有人可能會問：他們要哪一個Sigma？

要使用估計的Sigma還是計算的Sigma？哪一個更準確？很自然，大多數人都想讓所使用的Sigma使Cpk值看起來更好一點，但是這樣的Sigma可能並不反映客戶所要瞭解的生産過程。

爲了防止Cpk計算的混淆，出現了一個新的指數Ppk——工序性能指數。Ppk使用從單值中計算出來的Sigma。

應該如何使用它們呢？

利用估計的Sigma計算出來的能力相關值（Cp、Cpk、Cr）被用於測度一個系統適合客戶需要的潛在能力。一般用它分析一個系統的自然傾向。

實際的或計算出來的Sigma以及相關指數（Pp、Ppk、Pr）被用於測度一個系統適合客戶需要的執行情況或性能。一般用它分析過程的實際性能。

您知道嗎？---對稱度與峰度：

對稱度（Skewness，也稱爲“歪斜度”）：度量分佈離開正態分佈的程度。若分佈不對稱，就稱爲歪斜。如果分佈的某一邊比另一邊多（“尾巴”），就都是有“歪斜”。如果“尾巴”偏向於較大值，就稱分佈爲正歪斜或向右歪斜；如果“尾巴”偏向於較小值，就稱分佈爲負歪斜或向左歪斜。

峰度（Kurtosis）度量分佈的尖銳程度。值爲0表示爲正態分佈。若爲正值則說明更多的數值集中在均值附近；若爲負值說明曲線有一個比正態分佈更尖的頂。

您知道嗎？測量系統分析（MSA）的簡單介紹

引言:在工廠的日常生産中，我們經常要對各種各樣的測量資料進行分析，以得到某些結論或採取行動。爲了保證得到的結論或採取的行動是正確的，除了保證正確的分析方法外，必須把注意力集中在測量資料的質量上。

測量資料的質量

測量系統指由操作、程式、量具、設備、軟體以及操作人員的集合來獲得測量結果的整個過程。理想的測量系統在每次使用時，應只産生“正確”的測量結果，然而，幾乎不存在具有這樣理想的統計特性的測量系統。測量資料品質與穩定條件下運行的某一測量系統得到的多次測量結果的統計特性有關，表徵資料品質最通用的統計特性是偏倚和方差。所謂偏倚的特性，是指數據相對標準值的位置，而所謂方差的特性，是指數據的分佈。
低質量數據最普通的原因之一是資料變差太大，一組測量的變差大多是由於測量系統和它的環境之間的交互作用造成的。一個具有大量變差的測量系統，用來分析一個製造過程可能是不恰當的，因爲測量系統的變差可能會掩蓋製造過程中的變差。

我們應該對測量系統變差進行監視和控制，如果測量資料的質量是不可接受的，則必須改進測量系統。

測量系統的統計特性

爲了獲得高質量的測量資料，測量系統必須具有下述特性：

1) 測量系統必須處於統計控制中，這意味著測量系統中的變差只能是由於普通原因而非特殊原因造成的，這可稱爲統計穩定性；
2) 測量系統的變異必須比製造過程的變異小；
3) 測量系統的變異應小於公差帶；
4) 測量精度應高於過程變異和公差帶兩者中精度較高者，一般來說，測量精度是過程變異和公差帶兩者中精度較高者的十分之一；
5) 若測量系統統計特性可能隨被測專案的改變而變化，則測量系統最大的變差應小於過程變差和公差帶兩者中的較小者。

測量系統評價

評價一個測量系統時，首先，應看該測量系統是否有足夠的分辨力，即測量系統檢出並如實指示被測特性中極小變化的能力，解析度最多是總過程的6Sigma（標準偏差）的十分之一。

測量系統誤差可以分成五種類型：偏倚、線性、穩定性、重復性和再線性。

偏 倚

偏倚指測量結果的觀測平均值與基準值的差值；

偏倚=觀察平均值-基準值

線 性

線性指測量儀器預期工作範圍內偏倚值的差別；在測量儀器的工作範圍內選取一些零件可確定線性。這些被選零件的偏倚由基準值與測量觀察平均值之間的差值確定。

穩定性

穩定性指測量系統在某持續時間內測量同一基準或零件的單一特性時獲得的測量值總變差；通過使用控制圖來確定統計穩定性，控制圖可提供方法來分離影響所有測量結果的原因産生的變差和特殊條件産生的變差

重復性和再現性（R&R）

重復性指測量一個零件的某特性時，一位評價人用同一量具多次測量的變差；測量過程的重復性意味著測量系統自身的變異是一致的。由於儀器自身以及零件在儀器中位置變化導致的測量變差是重復性誤差的兩個一般原因。

再現性指測量一個零件的某特性時，不同評價人用同一量具測量的平均值變差。測量過程的再現性表明評價人的變異性是一致的，變異性代表每位評價人造成的遞增偏倚。如果這種偏倚真正存在，每位評價人的所有平均值將會不同。

量具重復性和再現性（R&R）的可接受準則是：

低於10%的誤差 - 測量系統可接受；
10%至30%的誤差 – 根據應用的重要性、量具成本和維修的費用等可能是可接受的；
大於30%的誤差 – 測量系統需要改進。