五所静电放电（ESD）免费培训

静电放电（ESD）和闩锁效应（Latch-up）是导致集成电路在生产和应用过程中失效的两大主要原因；其他大量的电子元器件也对ESD非常敏感，如光电器件、射频和微波器件、声表面波器件、纳米器件等。
为让更多的行业人员进一步了解和掌握电子元器件ESD和Latch-up检测及分析技术方面的相关知识，避免和减少企业因静电导致的损失，本实验室拟以“电子元器件ESD和Latch-up测试及分析技术”为主题，举办为期一天的技术研讨会。
欢迎有关管理人员与技术人员参加！
时间：2006年9月20日 地点：广州市天河区东莞庄路110号 电子五所院内
费用：免费 餐食：提供午餐
日程安排：
时间 研讨内容 演讲者
9:00～11:00 电子元器件ESD测试及分析技术 Ø 电子元器件ESD基础知识Ø ESD检测标准、方法及与整机ESD试验的比较Ø ESD损伤的失效定位及分析技术Ø ESD损伤典型案例分析 来萍
11:15～12:00 先进的聚焦离子束（FIB）系统及分析技术Ø FIB系统的基本原理Ø FIB分析技术的系统功能及用途 Ø FIB分析技术的具体应用范围 费庆宇
12:00～13:30 午餐
13:30～15:30 Latch-up及ESD传输线脉冲（TLP）测试及应用技术 Ø Latch-up的基本原理Ø Latch-up测试方法和相关标准Ø TLP技术的基本原理Ø
联系方式：
联系人：程卫民 电话：0769-22334517传真：0769-22502896
EMAIL: ceprei_chan#163.com
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#: 研讨会免费参加，每单位限2人以内，总名额限制为50名，以报名先后为准，确认后有效。