我个人谈CPK

做质量的人员对CPK一定不陌生,很多资料很多人都在说CPK,CPK到底是什么东西?

从质量管理资料名词解释来说,CPK就是过程能力.它是指在稳定情况下过程生产满足要求产品的能力.这里的满足能力是指满足此工艺过程的工艺参数要求------既满足公差的要求.

在很多论坛看人讨论以及亲身工作中发现很多人由于缺少对CPK的数理统计上认识.很多说法不是很清楚,以至存在这误解.

一,数理统计上的CPK..

在数理统计上CPK其实只是一个比值,是公差范围与3倍标准差的比值.

CPK=min[(上公差---均值)/3标准差,(均值--下公差)/3标准差} ,另外还有个根据CP求CPK的公式,在这里不列举出来,理论意义一样.

从公式我们可以明显的看出CPK就是一个比值.分析这个公式,我们可以先画一条直线数轴,取三个点,第一个点下公差(下限),第二个点均值(样本均值),第三个点上公差(下限).用方框表示标准差在数轴上的范围.

如果上\下公差是对称的.那么公式就变成

CPK=(上公差---均值)/3标准差或者CPK=(均值--下公差)/3标准差

数轴上就之考虑一边.

在这里先说"(上公差---均值)/标准差",

令:X=(上公差---均值)/标准差 或者X=(均值--下公差)/标准差

当X=1时,说明这批样本工艺参数的离散程度刚好等于公差允许偏差范围.这种情况下数轴内只能容纳一个方框,就是我们说的1SIGMA水平.

1,这个时候说的不合格数的来源是;因为标准差是个均值,数据的偏差最大与最小之间的差额必然大于均值,1倍标准才刚好与公差范围,那么整体来说,每个数据与样本平均值的偏差必然有大于标准差的,必然有超出公差范围的

2,由于计算是依据样本来进行的,样本是抽样得到的,那么就存在了样本与总体的偏差.样本均值不等于总体均值.而CPK指整个过程某个时期内整体的能力,那么这里也会有偏差,有不合格数的产生.

我们通常说的几SIGMA有多少不合格数 ,就是根据这些原因运用科学方法推理出来的.

X=2 数轴内可以话2个方框

X=3 ..................3.........

X=4 ...................4.........

...............

如果公差带是不对称的,就考虑值小的一边.

再说 CPK=(上公差---均值)/3标准差或者CPK=(均值--下公差)/3标准差

其实这就是假令的那个公式的变形,多加了参数3,加严了要求.变从一个方框为起点到以3个方框为起点.

二,不是CPK值小一定存在不合格

这个是不能绝对的,上面我们说了不合格产生的原因.不合格产生是因为产品参数超出公差范围,如果一个过程生产出的产品工艺参数经过无偏估计,最大与最小值均在公差范围内,只要CPK>1/3都有可能不存在不合格,即100%合格.只是理论上有不合格,不代表实际一定有不合格.

三,不是CPK值越大越好.

我们说的6SIGMA水平是指CPK=2的情况,在理论上此水平下不合格数3.4PPM.CPK值越大,理论不合格数越少.但是,CPK大到连理论不合格数都没的时候,就在反映过程能力过好,过剩.浪费就出现了.

四,一个CPK值只能说明一个工艺,往往有时候一个过程有多个工艺,这个时候就要一个一个计算,综合分析了.