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frah(UID:2873) 新手上路

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根据Cpk定义,应该是只能用计量型评价; 我认为计算Cpk的目的也是为了进行质量水平的比较,对于计数型的质量特性用合格率或是不良率就可以很直观地进行质量水平的评价。

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同意

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根据你给出的数据,可以看出无论是EV,AV,PV都远小于Tolerance

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完全同意: 本人工作过的一家电子厂就取消了SMT的全检,只是每500片抽检5片。 100%检验并不能保证产品的质量(考虑到检验人员检验设备检验方法等等因素的影响),而且增加了成本。

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似乎你的嵌套理论和方差分析也不相同,请问有没有具体的分析理论基础?或是相关资料提供给大家一同学习呀?

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