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2013-07-12 eleven.cn 回答了问题, 管理学十大经典定理
2013-07-12 eleven.cn 回答了问题, MSA 请高手帮忙分析下！
这个收了，谢谢楼主的分享
[b]回复 forum.php?mod=redirect&goto=findpost&pid=3234440&ptid=247594[/b] 测量系统是通过光学在样品表面扫描，通过自带软件模拟出样品的表面轮廓图，在图上取得截面曲线...
现在就是因为测量工具和测量样品的原因，很难固定测量点，所以现在 假设样品是一不规则长方体的话，通常都是通过工具在长轴上取一截面测量其高与宽，以这个截面上的高与宽来表征长方体的宽与高，以点代面，这个点又是人为取点，所以就会有很多选择性。 还有别的方法么？ ...
在几十微米级的样品定测量点，有点难度，大家都这么说，我先试试，谢谢先！
也许确实不合适，即使这个测量系统很精确。
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