各位:
我们在计量器具数显卡尺,在使用时发现两把卡尺同精度,但测量产品时却会出现0.01的差别,用量块校准时量出的结果却是相同的,我不明白是哪个环节出现了问题。
如果对其中的一把数显卡尺进行精度补偿,我们可以通过多次测量量块的均值(量块范围进尽可能的款),通过比较最终确定卡尺可能是在测量5-10mm区间内会有误差,当然这只是一个例子,假若我们不用量块来比较,请各位推荐一点经验,这么做能让精度相同的两把数显卡尺测量同一个产品的同一个特性结果一致。
我们在计量器具数显卡尺,在使用时发现两把卡尺同精度,但测量产品时却会出现0.01的差别,用量块校准时量出的结果却是相同的,我不明白是哪个环节出现了问题。
如果对其中的一把数显卡尺进行精度补偿,我们可以通过多次测量量块的均值(量块范围进尽可能的款),通过比较最终确定卡尺可能是在测量5-10mm区间内会有误差,当然这只是一个例子,假若我们不用量块来比较,请各位推荐一点经验,这么做能让精度相同的两把数显卡尺测量同一个产品的同一个特性结果一致。
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63315066 (威望:0) (北京 海淀) 机械制造 工程师 - 用人原则:有才有德,破格使用 ...
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