请教PPM和DPMO的区别与计算方法？RTY的计算？

ppm，不合格品率的百万分点表示，即每百万个产品中的不合格品数

单位/单元（unit）：过程加工过的对象，或传递给顾客的一个产品及一次服务

缺陷(defect)：产品（服务）没有满足顾客的需求或规格标准

缺陷对象：包含缺陷的单元

缺陷机会：单位产品上可能出现缺陷的位置或机会

DPU,defects per unit,单位产品缺陷率，反映了各种类型的缺陷在抽取的全体样本中所占的平均比率。

DPU=缺陷数/单位产品数

DPO,defects per opportunity,每次机会中出现缺陷的概率，表示每个样本量中缺陷数占全部机会数的比例

DPO=缺陷数/(产品数×机会数)

DPMO,defects per million opportunity,每百万机会缺陷数,

DPMO=DPO×100,0000

RTY(rolled throughput yield),流通合格率，充分考虑过程中子过程的存在，若过程有n个子过程，而子过程的合格率分别为y1,y2,……yn,则：

RTY = y1y2……*yn





当把这些东西想要和SPC的计量、计数数据结合的时候，俺是迷茫地：
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0.先描述一下数据源：
计量型的数据通常是这样的，我要测量一个尺寸长度，则得到一堆零件的数据：10.8,10.9,9.9,9.7....;
计数型的数据通常包括计件和计点两种：
计件的数据是（子组数，不合格品数）：(4000,8),(4000,14)……;
计点的数据是这样的（子组数，疵点数）（4000,7)，（4000,8)……;
1.PPM如何计算？
计量型的数据：可以通过计算其均值和西格玛值，然后转化为标准正态分布求积分即可得到不合格率，然后得到PPM；
问题一：计件型的PPM可以计算吗？PPM=∑子组不合格数/∑子组数*1000000?这种算法正确吗？
问题二：计点型数据可以计算PPM吗？按照定义貌似没有道理啊？
2.DPMO的计算？
问题三：计量型数据能够计算DPMO吗？或者DPMO＝PPM？
问题四：计件的数据能够计算DPMO吗？或者计件型数据的DPMO有意义吗？DPMO=∑子组不合格数/∑子组数*1000000?
问题五：计点的数据怎么计算DPMO？DPMO=∑疵点数/∑子组数*1000000?总感觉一个子组的数据就可以计算出DPMO，这种算法对吗？
3.RTY的计算
由RTY的定义，需要知道合格率y1、y2...yn等。
计量型的数据：通过计算数据均值和西格玛估计值，根据规范限USL和LSL转化为标准正态分布求积分即可得到合格率
计件型数据的合格率能够计算吗？事实上每一对（子组数，不合格品数）都能够计算一个不合格率，对于一组计件数据如何计算合格率?合格率＝1-∑不合格品数/∑子组数？
计点型数据能够合格率吗？
对于计件和计点如何计算其合格率从而计算RTY呢？
另外就是使用计数型的方法时，一般时仅使用计件或仅使用计数，还是对一批样本会同时使用这两种方法呢？


后来又搜索了论坛上几个关于PPM和DPMO的帖子，看得让俺有些愤怒了：为什么搞了这么多概念，难道是非得把人整晕了才是高超的质量理论吗？

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http://bbs.6sq.net/viewthread. ... BDPMO
举个例子：批量1000，每片有100个焊点，只有1片不良（且这1片上有两个焊点不良）
算PPM就=1/1000*1000000=1000
算DPMO就=2个焊点/（（100焊点/片+1）1000）1000000=2/101000*1000000=2000/101
这DPMO中的“1”指若这片板子100个焊点都是好的，可这片板子功能却不能通过，是一个机会不良数。
由上可知：通常DPMO要比DPPM小很多
6Sigma上所使用的就是DPMO，而非DPPM
所谓6Sigma=3.4，单位是DPMO


上面的DPPM是指每百万产品的缺陷率？对于只使用计量型的数据进行计算的质量特性由如何用DPMO来描述呢？
对于那个+1仍然有些不明白为什么非得这么去做？

最后颇有些无奈，还得整明白了才能用起来。于是把相关算法和问题整理如上，还望各位同仁援手不吝赐教啊，先行谢过！