《GBT 26572-2011 电子电气产品中限用物质的限量要求》中C.4.5条目对XRF测试金属镀层样品进行了描述：

a)样品未拆分前（未将基体和镀层剥离开），使用XRF整体测试，未检出限用物质（即：小于限量值的10%），则可以判断镀层不含有限用物质。

我认为这个描述有问题，不将镀层剥离开测试整体为ND，并不能得出镀层不含有限用物质的结论。镀层很薄，基体很大，镀层的重量占整体重量的比例很低。这样镀层中含有限用物质，但是整体检测为ND的现象也是可能的。

欢饮各位对《GBT 26572-2011 电子电气产品中限用物质的限量要求》有了解或者对XRF测试RoHS熟悉的大侠发表意见。

使用XRF整体测试,本来就是个不精确的测试方法。之所以有这样的规定，估计综合考虑了便于操作、成本、风险等几个方面，纯属个人意见，仅作参考。