本帖最后由 zest.zhang 于 2012-1-19 11:55 编辑

各位好，本人最近在研读SPC手册，目前存在如下2个疑问，还望高人帮忙答疑。 感激不尽
以X-Bar 图为例：

1. 分析用控制图确定过程是否统计受控的标准一般会用那些？
2. 在用以上标准确认后为统计受控，是否还需要确认过程是否是正态分布 ？ 即统计受控是否能代表过程是正态分布（我表示认同）

另外我也搜过论坛帖子，上有人提及样本均值根据中央极限定理肯定呈现正态分布，但我认为过程分布是由每个数据样本构成，所以过程的正态分布肯定是以过程样本分布为准！ 均值是过程位置，极差是过程宽度
在此先谢过，另提前祝大家新年快乐

俺也想弄懂SPC啊，学习当中