1 选取一个样品，并确定其相对于可追溯标准的基准值。如果没有这样的样品，则从产品中选取一个样品，其测量值应处于预期测量范围的中间区域，将其作为标准样品。可能需要准备对应于预期测量范围的低、中、高数值的三个样品，对每个样品单独测量并绘控制图。但一般只需做中间值一个就可以了。
2 定期（天、周）测量基准样品3-5次，决定样本容量和频率时考虑的因素有：校准周期、使用频率、修理次数和使用环境等。
3 将测量值描绘在X~R、X~S控制图上。
4 计算控制界限，并对不稳定或失控做出判断。
5 计算测量结果的标准偏差，并将其与过程（工序）的标准偏差比较，以确定测量系统的稳定性是否适宜。

请问这里计算测量结果的标准偏差，并将其与过程（工序）的标准偏差比较，这里的过程的标准偏差是不是我们在做SPC时根据其数据所计算出的标准差呢？即R/D2，请高手解答？

楼主所说的可是指测量系统的统计稳定性？
楼主所说的前4步与测量系统的统计稳定性分析是一样的，不过我所见过的测量系统的统计稳定性分析只有楼主所说的前4步；