测量系统分析
Measurement Systems Analysis
一、测量系统所应具有之统计特性
v 测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性 。
v 测量系统的变差必须比制造过程的变差小 。
v 变差应小于公差带 。
v 测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，一般来说，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一 。
v 测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真的如此，则测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者 。
二、标准
v 国家标准
v 第一级标准(连接国家标准和私人公司、科研机构等)
v 第二级标准(从第一级标准传递到第二级标准)
v 工作标准(从第二级标准传递到工作标准)
三、测量系统的评定
v 测量系统的评定通常分为两个阶段，称为第一阶段和第二阶段
v 第一阶段：明白该测量过程并确定该测量系统是否满足我们的需要。第一阶段试验主要有二个目的 ：
v 确定该测量系统是否具有所需要的统计特性，此项必须在使用前进行 。
v 发现哪种环境因素对测量系统有显着的影响，例如温度、湿度等，以决定其使用之空间及环境 。
v 第二阶段的评定
v 目的是在验证一个测量系统一旦被认为是可行的，应持续具有恰当的统计特性 。
v 常见的就是“量具R&R”是其中的一种型式 。