三个关于控制图的考题，求解析过程。

69. 请注意题干,过程稳定,独立,正态,说明此过程处于统计受控状态
而SPC手册134页有这么一句话:如果过程处于统计受控状态,过程能力将非常接近过程性能,也就是CPK=PPK
同理可得Cp=Pp,也就是说R/d2这个估计值会无限接近于标准差,所以此题选A
 
75. 这个和你另一外贴的问题相同,我就把我那个贴的回答直接复制过来好了
缺陷点数一般都是服从泊松分布,而如果用C图来控制,样本量是固定的,没强制性要求
你这题平均缺陷才0.1...抽10块才找到1个缺陷...这要怎么控制?这种有何代表性...
50*0.1=5 这样才有一定代表性,此题就是看你能不能想明白,这是送分题,选B啊..
 
74.这个题,我估计你是没搞懂什么是一类二类错误吧?
第一类错误：原假设是正确的，却拒绝了原假设。在此题的一类错误意思就是错判,控制线还是3倍标准差,点会不会落在外面的概率是不变的,也就是异常点还是异常点
第二类错误：原假设是错误的，却没有拒绝原假设。在此题中二类错误意思就是漏判,抽样数量增加增加了找到异常点的机会,从而使得漏判的机率变低...所以是减少了第二类错误
 
以上解答,还请参考,最好是给我点个赞来着...^-^