SPC统计制程管制

　 　 (Xbar － μ) 　 (实绩平均值 － 规格中心值)
Ca(k) ＝ ────── ＝ ───────────
　 　 (T ／ 2) 　 (规格公差／2)
T＝USL－LSL=规格上限－规格下限＝规格公差
PS.制程特性定义
单边规格(设计规格)因没有规格中心值，故不计算Ca
制造规格将单边规格公差调整为双边规格,如此方可计算Ca
当Ca ＝ 0 时，代表量测制程之实绩平均值与规格中心相同；无偏移
当Ca ＝ ±1 时，代表量测制程之实绩平均值与规格上或下限相同；偏移100%
评等参考 ：Ca值愈小，品质愈佳。依Ca值大小可分为四级
等级 Ca值 处理原则
A 　　0　　≦　|Ca|　≦　12.5% 维持现状
B 12.5%　≦　|Ca|　≦　25% 改进为A级
C 　25%　≦　|Ca|　≦　50% 立即检讨改善
D 　50%　≦　|Ca|　≦ 100% 采取紧急措施，全面检讨必要时停工生产
制程特性定义
制程特性依不同的工程规格其定义如下：。
等级 处理原则
无规格界限时 Cp(Pp)　　＝　＊＊＊Cpk(Ppk)　＝　＊＊＊Ca 　　　 ＝　＊＊＊
单边上限(USL) Cp(Pp)　　＝　CPUCpk(Ppk)　＝　CPUCa 　　　 ＝　＊＊＊
单边下限(LSL) Cp(Pp)　　＝　CPLCpk(Ppk)　＝　CPLCa 　　　 ＝　＊＊＊
双边规格(USL, LSL) Cp(Pp)　　＝　(USL－LSL)／6σCpk(Ppk)　＝　MIN(CPU,CPL)Ca 　　　 ＝　|平均值－规格中心|／(公差／2)
制程精密度Cp(Caoability of Precision)
制程能力指数Cp、Pp、CPU、CPL（精密度；Precision）： 表示制程特性的一致性程度，值越大越集中，越小越分散。
或 ： 双边能力指数(长期)
： 双边绩效指数(短期)
： 单边上限能力指数
： 单边下限能力指数
USL： 特性值之规格上限；即产品特性大于USL在工程上将造成不合格
LSL： 特性值之规格下限；即产品特性小于LSL在工程上将造成不合格
： 制程平均数估计值；即制程目前特性值的中心位置
： 制程标准差估计值；即制程目前特性值的一致程度
PS.制程特性定义
　　单边规格(设计规格)因没有规格上限或下限
　　没有规格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk
　　没有规格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk
简易公式
制程精密度Cp(Caoability of Precision)
量测制程之实绩平均值与规格中心的差异性。
　 　 (USL－LSL) 　 (规格上限－规格下限)
Cp ＝ ────── ＝ ───────────
　 　 6 σ 　 (6个标准差)
PS.单边规格(设计规格)因没有规格上限或下限
　 　 (USL－X) 　 (规格上限－平均值)
Cpu ＝ ────── ＝ ───────────
　 　 3 σ 　 (3个标准差)
　 　 (X －LSL) 　 (平均值－规格下限)
Cpl ＝ ────── ＝ ───────────
　 　 3 σ 　 (3个标准差)
制程精密度Cp(Caoability of Precision)之参考判定
当Cp愈大时，代表工厂制造能力愈强，所制造产品的常态分配越集中。
等级判定：依Cp值大小可分为五级
等级 Ca值 处理原则
A+ 2　　≦　Cp 无缺点考虑降低成本
A 1.67　≦　Cp　≦　2 维持现状
B 1.33　≦　Cp　≦　1.67 有缺点发生
C 1　　 ≦　Cp　≦　1.33 立即检讨改善
D 　　　　Cp　≦　1 采取紧急措施，进行品质改善，并研讨规格
综合制程能力指数Cpk：
同时考虑偏移及一致程度。
Cpk　＝ 　( 1 － k ) ｘ Cp 或 MIN {CPU,CPL}
Ppk　＝　( 1 － k ) ｘ Pp 或 MIN {PPU,PPL}
　 (X –μ)
K　＝　|Ca|　＝ ──────
　 (T/2)
PS.制程特性定义
单边规格(设计规格)因没有规格上限或下限
没有规格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk
没有规格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk
评等参考
当Cpk值愈大，代表制程综合能力愈好。
等级判定：依Cpk值大小可分为五级