🔍 Type1 量具研究
偏倚与线性分析，Cg/Cgk 计算
用「已知标准值」验证量具：偏倚研究 = 一个标准件重复测，看均值偏没偏；线性研究 = 低/中/高多个标准件各测多次，看偏倚是否随量程变大。
① 参数
② 输入重复测量值
① 参数
② 输入数据
什么是偏倚与线性？
· 偏倚（Bias）：用标准件（参考值已知）测 N 次，均值与标准值的差。偏倚大 → 量具系统性不准，需校准；检验用 t 检验看偏差是否「统计显著」
· 线性（Linearity）：量程低/中/高各取标准件测，若偏倚随量程增大（回归线斜率≠0）→ 量具存在线性问题，需调整或分段校准
· 这三个 + 量具 R&R 构成 AIAG MSA 计量型四大研究；稳定性（定期测标准件看漂移）另有独立工具
· Cg/Cgk 出自 VDA 5（德系常见），需填公差；数据全在浏览器内计算，不上传服务器
· 线性（Linearity）：量程低/中/高各取标准件测，若偏倚随量程增大（回归线斜率≠0）→ 量具存在线性问题，需调整或分段校准
· 这三个 + 量具 R&R 构成 AIAG MSA 计量型四大研究；稳定性（定期测标准件看漂移）另有独立工具
· Cg/Cgk 出自 VDA 5（德系常见），需填公差；数据全在浏览器内计算，不上传服务器
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关于MSA Type1 偏倚与线性研究
Type1 量具研究用「已知标准值」验证量具本身的准确度（不涉及人）：① 偏倚研究——同一标准件重复测量，算均值偏倚 / %偏倚（相对公差），用单样本 t 检验判断偏倚是否统计显著，可选输出 Cg/Cgk（VDA 5 常见，≥1.33 为通常要求）；② 线性研究——取覆盖量程的低/中/高多个标准件各测多次，对「平均偏倚 × 参考值」做最小二乘回归，用斜率 / R² / %线性判断偏倚是否随量程漂移。它与 量具 R&R（人+设备）、稳定性（随时间）互补，共同构成 AIAG 计量型测量系统研究。数据不出浏览器。