半导体与电子行业质量工具聚焦良率提升与可靠性。涵盖晶圆DPW(Die Per Wafer)与良率计算、Wafer Map缺陷分布图(坏点聚类分析)、洁净室等级换算(ISO 14644-1,ISO Class 1-9)、ESD静电防护(ANSI/ESD S20.20,EPA静电放电保护区管理)。半导体行业对缺陷密度、良率损失、静电损伤有极高要求,是电子制造业质量管控的核心。
半导体与电子行业质量工具聚焦良率提升与可靠性。涵盖晶圆DPW(Die Per Wafer)与良率计算、Wafer Map缺陷分布图(坏点聚类分析)、洁净室等级换算(ISO 14644-1,ISO Class 1-9)、ESD静电防护(ANSI/ESD S20.20,EPA静电放电保护区管理)。半导体行业对缺陷密度、良率损失、静电损伤有极高要求,是电子制造业质量管控的核心。