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量测系统的分辨力越大越好吗?

我最近在量测一些零件的时候采用了不同的量测工具:数显卡尺(分辨力0.01)和三坐标测量仪(分辨力0.0001),但是在有些大尺寸上边,却感觉三坐标用的很奇怪,比如说用卡尺测在规格内,而用三坐标却在轨格外,研究了一下,因为零件做得很糙,要求也不高,所以有些地方看起来是直的,在放大100倍之后却是弯的,甚至是波浪形的,这给三坐标取点造成了很大的困难,甚至连续测量会有很大的误差,但是用卡尺却不会有这么大的误差,难道在这里也需要用模糊理论。
所以忍不住要向各位请教一下如题的问题:量测系统的分辨力越大越好吗?
希望有同样经历的同志指教一二,不胜感激!谢谢!
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lumi830922 (威望:0) (浙江 杭州) 电子制造 工程师

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本帖最后由 lumi830922 于 2011-10-31 10:21 编辑

赞同4楼的说法。卡尺是以面接触,算得上是测量测量处的最大外形尺寸,所以每次测量的结果比较接近,而三坐标不同,执行每个产品测量时都需要手动建测量坐标系,那么后面测量特征的位置点也不同,故结果变动大,这算是一个原因,粗糙度也算一个,对此你可以加大测头的半径来减少测量误差,另外在评价尺寸时,如果三坐标测量的是外形轮廓尺寸,评价时你最好选择最大实体或最小实体原则,且如果是评价2个测量面的距离,结果在评价时最好用宽度进行评价,不要用距离进行评价,减少坐标系对结果的影响

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