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个人认为不要纠结于哪个是长期和短期，这个不是重点。重点是cpk只考虑随机误差，用Rbar估计西格玛，而Rbar主要取决于组内变差，ppk同时考虑Xbar的偏移产生的误差，西格玛用样本总体标准差作为估计。从根儿上了解变异源各分量，需要怎么控制和改进变异源才是SP...

这些都是工具，根儿上讲，要分析变异源，然后加以控制。设备因子水平不是主要变异源的话，就不需要。

极差图是监控波动的，大体原理应该和Xbar图一样，只是分布形式不一样。Xbar 属于t分布近似正态分布。Rbar 应该服从卡方分布，它的方差不是样本标准差。所以不一样哦。个人理解。

不计算t值没法查表，不查表就不知道α分位点的值，就不知道拒绝域的临界点，就不知道啥时候拒绝原假设（H0: Xbar-Ar=0）。有了t值您就全齐了。数据一定要独立，正态的。

再现性误差来自于对同一产品的n次测量，跟人可能没什么关系。重复性误差来源于你的测试设备的随机误差。选一些覆盖PV的样件，每个样件多测几次（比如10个样件，每个测3次）。人的因素基本不用考虑了。用方差分析的方法计算方差分量，再算GRR就行了。工具是死的，GRR...

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