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测量系统分析-线性偏倚分析

个人觉得不错,分享给大家。
为保证我们的测量系的准确性,我们生产过程中,要对测量系统进行测量系统分析,以了解测量系统的变差分量,确定这变差分量是否可接受以及做相应的改善。
以下我介绍一下测量系统分析中的线性偏倚分析,知识有限有不对的地方请多多指教。
决定要对某工序测量外形尺寸的测量系统做线性偏倚分析,此过程变差=0.01mm.要求测量系统偏小于过程变差的1/3.
一、数据收集:
1、    人员:经培训合格的操作人员1位;
2、    测量仪器:测量范围为(0~100)mm的A仪器;
3、    分析样品:取5个分析样品,使用高一级测量仪器测得量值分别为: 
 
        1mm、5 mm、10 mm、50 mm、100 mm。
4、    测量方法:测试人员,在重复性条件下,使用直接测量分析对5个样品测量15次,得到测量结果;
5、    分析环境:23℃,54%RH.
二、分析数据-使用MINITAB工具
1、把数据按MINITAB的数据格式,填入MINITAB工作表中:
 
a1.jpg


2、使用MINITAB的量具线性和偏倚研究工具,计算出结果。
   
a2.jpg


a3.jpg


a4.jpg


a5.jpg

 



 
3、输出结果如下:
 
a6.png



4、分析判定:
从上图与数据我们可判定,此测量系统存在显著的线性偏倚,但%偏倚都小于30%,所以对于此过程,此测量系的偏倚可接受;
1)    常量P=0.000<0.05, 斜率P=0.000<0.05,说明存在线性偏倚;
2)    图表与R-S=71.9%也证实了这一结论;
最大%偏倚=17.3%<30%,所在虽然此测量系统存在线性偏倚,但用于此过程是可接受的。不需要修正或改善。
如果需修正可使用此线性回归方程对测量结果进行有效的修正:
Y=1.00002X-0.000722.
 

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